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Topcon拓普康神崎现货精选 二维光谱辐射计
Topcon拓普康神崎现货精选 二维光谱辐射计
SR-5100是一款二维光谱辐射计，其性能与传统的点测量光谱辐射计相当。
该仪器使用可追溯光源进行校准，确保高精度的亮度和色度测量。其
光谱特性（包括光源的波长特性、材料的光谱透射特性以及物体的光谱反射特性）可进行非破坏性、非接触式测量，测量范围为 500 万 cd/m² 和 170 亿 cd/m²，测量精度为1 nm。这款光学测量仪器有助于在各种产品中保持高质量。SR
-5100 二维光谱辐射计可分析每个物体的光谱，从而能够评估人眼或滤光片式二维亮度计难以评估的特性和发光产品，以及评估物体的反射光并进行模拟评估。其
应用涵盖了快速发展的Micro/Mini LED显示器、材料、纹理、护肤、纺织染织、景观等广泛的行业和应用领域。
| 测量模式 | 光谱模式 |
|---|---|
| 接收者 | 500万像素CMOS图像传感器 |
| 物镜 | 标准：f=32mm 标准+广角附加镜头：f=24mm (*1) 远摄：f=140mm 微距 * 可选镜头 |
| 有效像素 | 2448×2048 |
| 测量范围（*2） | 0.5 至 17,000,000,000 cd/ m² |
| 测量波长范围 | 380至780纳米 |
| 波长精度（*4） | ±0.5nm *Hg发射线，高精度模式 |
| 光谱波长宽度（*5） | 7nm（半宽） |
| 波长分辨率 | 1纳米 |
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