日本AITEC半导体检测光源箱LLBKC-BA-740，半导体检测、晶圆检测、电子板检测、太阳能电池检测、农产品检测、鉴定与分类、监控、防伪、工艺质量控制。

日本AITEC半导体检测光源箱LLBKC-BA-740

日本AITEC半导体检测光源箱LLBKC-BA-740

●能够照射近红外（近红外波长740nm~1000nm）和短波红外（短波红外波长1000nm~1700nm）区域的光源；

●可通过近红外/短红外光识别同色异物，并通过包裹打印件进行透射成像，这些照片难以用可见光捕捉。

●SWIR光用于利用硅透射和水波长吸收特性的检测。

半导体检测、晶圆检测、电子板检测、太阳能电池检测、农产品检测、鉴定与分类、监控、防伪、工艺质量控制

与传统（白色）相比，照度约为 LLG 系列的 1.6 倍，检测精度显著提升。

新增三种颜色：R（红色）、G（绿色）和B（蓝色）利用每种

颜色的特性，使异物检测和材料识别更加可靠。

作为高亮度照明器，性价比好，安装简便，运行成本低。 适合大规模部署。

均匀照射整个工件，大幅减少反射。高扩散性能实现镜面和曲面成像稳定。

兼容透射光、反射光和漫射光等多种照明方式，可根据应用和工件构建照明环境。

适合各种检查，如划痕、印刷、形状、尺寸等。兼容多种检验项目，强力支持生产线质量控制。

活跃于电子元件、印刷、食品和医疗等多个行业，具备灵活性和可靠性以满足多样化需求。

我们将始终努力提供安全、可靠且从客户角度令人满意的产品和服务。

为了赢得客户信任，我们将积极推进技术开发和生产体系建设，继续努力提升质量，防止质量事故发生，并审查和加强质量管理。

基于上述质量政策，我们将制定全公司质量目标，并按照“以客户为本"和“以质量为导向"的理念开展企业活动。

LLXV系列：高亮度型

LLHX系列：高亮度×独特的光学设计，适合更明亮的斜视光

LLXJ系列：紧凑且低成本型

●斜向高亮度线照射用于线性相机检测

●兼容自然散热型无尘室

●高亮度可实现薄缺陷检测

●除标准棱镜外，还提供-H03~-H05棱镜，可通过改变照射角度处理各种划痕

●各种划痕可通过更换光学系统处理

● 高照度型、紧凑型和低成本型，根据应用线也有

● LLXJ（低成本型）系列有W（白）、R（红）、G（绿）发光色。你可以从B（蓝色）中选择。

钢板检查、玻璃检查、片材检测、金属表面检测、

边缘检测、晶圆检测、线传感器用光源、目视检查用光源、图像处理用光源、印刷（UV固化油墨）喷墨打印机、丝网印刷、柔版印刷、胶印。